服务项目
我们的项目
X-RAY检测
功能检测
粒子碰撞噪声检测
密封
内部水汽含量
超声波扫描(SAT检测)
可焊性测试
开盖测试
键合强度
芯片剪切强度
结构
外观检测
结构测试是参照对比被试器件总体结构的基准照片、草图或图纸。参照文件应是现行使用的,以便能反映出在结构方面已批准的任何变化。
(1)测试中应包括关键尺寸 (2)各组成零件的位置 (3)以及有关的材料和工艺细节
微电子器件